磁性测厚法比较可信的一种介绍

磁性测厚法是利用电度原理测定磁性基体上元磁性涂层厚度的方法 。 该法适用于磁性基体上的非産性涂层或化学保护层的厚度测量。

该法在测量前应在标样上对仪器进行系统调节,从而确保其测量精度 。 也可在无涂层基体上送行调节,此时应对标样和无涂层基体进行置零比较,其厚度差称为修正值,供需双方统一试样、统一方法,从而确定修正值 。 采用磁性法测定法层厚度时,按下述一些惯例进行。

基准面为1cm²时，最小局部厚度的测量见下表：

注：1、曲面探头与涂层表面的接触为1点，图中用“×"表示；

        2、扁平探头与涂层表面的接触为1面，图中用“○"表示，扁平探头的面积应小于φ 3mm的圆面积。

基准面为1dm²时，无论采用什么型号的仪器以及何种探头测量，均按图所示10点法，在该基准面上做10次测量，取其平均值。

影响测量值的因素：

1、涂层本身某些因素影响，如厚度、电导率和表面粗糙度；

2、基体金属本身某些因素影响，如厚度、磁性、曲率、表面粗糙度、机械加工方向和剩磁等；

3、外来因素的影响，如周围的磁场和外来附着物等；

4、测量技巧的影响，如探头压力，探头取向和边缘效应等。

上述各因素的影响应按GB 4956的规定予以排除和校正。