USHIO照度计凭借高精度V(λ)校正、宽量程（0.1–200,000lux）及优异稳定性，广泛应用于半导体、医疗、农业及显示行业。然而在实际使用中，
USHIO照度计可能会因环境干扰、操作不当或器件老化，出现读数异常、响应迟缓或功能失效等问题。若处理不及时，将直接影响工艺控制与检测合规性。科学识别并快速处置，是保障光学测量可靠性的关键。
一、读数明显偏低或无响应
原因分析：
传感器窗口被指纹、油污或灰尘覆盖；
V(λ)滤光片或余弦扩散罩老化发黄、开裂；
电池电量不足或接触不良。
解决方法：
立即用无绒布蘸少量无水乙醇单向轻擦传感器表面，切勿打圈以免划伤；
检查乳白扩散罩是否完整，若发黄变脆需更换原厂配件；
更换新电池，并清洁电池仓触点，确保电压≥3.0V（CR2032）。
二、数值波动大或跳变频繁
原因分析：
光源本身不稳定（如LED频闪、荧光灯老化）；
测量时手部抖动或未垂直对准光源；
电磁干扰（靠近变频器、电机等设备）。
解决方法：
启用仪器“平均值模式”（如10秒积分），平滑瞬时波动；
使用三脚架固定探头，确保感光面与入射光垂直（余弦误差＜±2%）；
远离强电磁源，信号线避免与动力线平行铺设。
三、不同色温光源下测量偏差大
原因分析：
V(λ)校正漂移，导致对蓝光（450nm）或红光（650nm）响应失衡；
使用非标准光源（如窄带UV/IRLED）超出可见光响应范围。
解决方法：
仅用于380–780nm可见光测量，避免紫外消毒灯或红外加热器场景；
若需高色温一致性，送计量机构进行多色温点校准（如2700K、5000K、6500K）；
定期比对标准光源箱读数，建立内部核查机制。
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产品分类 / PRODUCT
更新时间：2026-02-26 
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